关于测量不确定度的疑惑...

我单位建立了可见分光光度计计量标准，我们使用的计量标准送到上级机构溯源给出的测量不确定度λ:U=0.7nm    T: U=0.7%,在技术报告中的测量不确定度评定中，得出的结果是U=0.22nm，K=2，
考核我们计量标准的审核员讲：这样不可以，我们建标技术报告中评定的测量结果不确定度必须小于我们所用计量标准的测量不确定度，请问各位专家，这样讲有道理吗？多谢赐教。

谢了，楼上的，

新人，个人认为不确定度算的不太对。技术报告中的测量不确定度U是各种影响因素合成后的扩展不确定度，其中包括了计量标准的不确定度，所以应该比计量标准的不确定度大才对吧？个人见解，不知道对不对。

自己顶一下，拜托了。

“我们建标技术报告中评定的测量结果不确定度必须小于我们所用计量标准的测量不确定度”....
我思考了良久....难道你们的结果和这句话有冲突嘛？
你们分光光度计的是使用的滤光片标准物质吧？如果是的话，就有可能出现这种错误：
1.因为检测这种滤光片测点应是表面均布的，而你们做重复性实验时却没有保证数据之间的独立性，导致数据代表性不足。表现为评定结果偏小。
2.评价测量不确定度时没有考虑标准物质校准时测量不准确的贡献因素，即没有将波长不确定度0.7nm代入数学模型。导致评定结果比校准报告中所附结果都偏小。
解决方案：
第一个问题：重复性实验代表性不足。
      进行两次试验，第一次改变滤光片在分光光度计投射线上的相对位置，重复N次，实验标准差s1；第二次不取出滤光片连续测量N次，实验标准差s2，以两标准差方 差 根作为重复性参与不确定度评价
第二个问题：未引入标准物质校准的不确定度。
      模型后再+一项由标准物质校准导致的不确定度，灵敏系数1，参与不确定度的合成。

帮顶一下，个人感觉这个说法不太正确

　　测量活动中使用的工具是测量设备，被检对象是产品的被测参数；校准活动使用的工具是计量标准，被检对象是测量设备的被检参数；建标考核活动中考核的对象是拟建计量标准，检定使用的工具是上级计量标准。这三个层次的活动涉及的对象分别是产品、测量设备、计量标准、上级计量标准四个东西。三个活动结果的不确定度应该是上级标准引入的不确定度＜被考核计量标准引入的不确定度＜被检测量设备引入的不确定度。
　　现在被检对象是“可见分光光度计计量标准”，将计量标准送到“上级”机构溯源，给出的测量不确定度U=0.7nm或U=0.7%，你们建标技术报告中的测量不确定度结果是U=0.22nm，K=2。两个不确定度分别是使用你们的计量标准校准被检测量设备时引入的不确定度分量，上级计量标准检定你们的计量标准引入的不确定度0.7nm，使用你们的计量标准比使用上级的计量标准测量不确定度还小，这是不可能发生的，或违反科学规律的反常现象。
　　原因要从两方面来找。
　　首先，要检查你们的不确定度评定过程，在评估不确定度分量时是否有重大遗漏。最大的可能性是你们遗漏了你们计量标准最大允差各你们的校准结果引入的不确定度分量，你们可能只使用A类评定方法分析了重复性引入的不确定度分量，而忽略了另一个远远大于重复性引入的分量的所用“工具”的特性引入的分量。
　　然后查找“上级”的原因。如果你们的计量标准确实需要那么高的不确定度，那么根据JJF1094，上级校准结果的不确定度就应该是你们的1/3以下，0.22nm÷3＝0.07nm，你就必须送测量不确定度达0.07nm以下的另一家机构检定你们的计量标准，而不应该向这家“上级机构”送检。你们把你们的“上级”认错了，应该淘汰这家机构的合格供方资格。

千万别沉了。