耐特信计量检测服务平台_计量管理软件
标题:
论“计量是统计测量”
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作者:
wangwu
时间:
2016-8-18 19:29
标题:
论“计量是统计测量”
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论“计量是统计测量”
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史锦顺
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(一)两类测量区分的标准
在测量计量领域中,无论是理论研究还是实际操作,都必须区分两类测量。其核心思想是对象与手段的区分。
两类测量区分的意义是明确如下诸点:该用哪个σ,即该不该除以根号N;能不能剔除异常数据;怎样选取测量仪器;测得值表征量属于对象还是手段。
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若着眼点是对象的问题,表征量归属于对象,称为统计测量。统计测量的条件是:
Δ(手段) << Δ(对象) (1)
若着眼点是手段的问题,表征量归属于手段,称为基础测量。基础测量的条件是:
Δ(对象) << Δ(手段) (2)
Δ指变化量或
误差
范围的指标值(二者中取大者)。
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(1)(2)是测量计量划分两类测量的一般标准、通用标准。
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测量,以认识量值为目的。在测量中,对象是被测量,测量仪器是手段。Δ(对象)是被测量的变化,记为Δ(物);Δ(手段)是测量仪器的误差,记为Δ(仪)。
测量中的基础测量条件具体化为:
Δ(物) << Δ(仪) (3)
测量中的统计测量条件具体化为:
Δ(仪) << Δ(物) (4)
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(二)计量是统计测量
计量的对象是测量仪器。考察的是仪器的误差值。由于计量中所用的标准的标称值是已知的,标准的误差范围是可略的,于是可以用标准的标称值来代表标准的
真值
。
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仪器的误差元等于仪器示值减真值。计量场合真值已知,研究误差,就是研究仪器的示值。
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仪器误差是示值与真值之差,即“真误差”;人们得到的是示值与标称值之差,称“视在误差”,视在误差与真误差之差,是计量误差。计量误差范围等于所用标准的误差范围R(标)。计量的必要条件是R(标)可略。设被检仪器的误差范围指标值为R(仪),层次比q=R(标)/R(仪),q越小越好,通常要求q≤1/4,时频计量要求q≤1/10.
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由于标准的误差范围可略,于是可用标准的标称值来代表真值。就是用视在误差来代表误差(真误差)。
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误差有两部分,一部分在重复测量中不变,这是
系统误差
;一部分在重复测量中变化,这是
随机误差
。测量仪器的随机误差,表现为仪器示值有随机变化。
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仪器的示值,在重复测量中变化,是随机变量。通常,将示值代入贝塞尔公式计算,求σ,求σ(平),这都是把仪器示值当随机变量来处理。
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被检仪器的示值是准随机变量(大的常值上有小的随机变量),对准随机变量的测量定义为“统计测量”。因此说:“计量是统计测量”。
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在计量场合,对象是被检测量仪器,而手段是计量标准。计量标准的指标必须远小于被检仪器的指标,符合条件(1),因此,计量是统计测量。计量与测量的对象与手段有原则性不同,判别计量是哪类测量,不能用测量场合的特定条件(3)与(4),而必须用通用条件(1)与(2)。
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(三)计量的数据处理方式
1 计量中的严格的定量计算
设标准的真值为Z,标称值为B,仪器示值为Mi,测量次数为N。
1.1 求平均值M(平)
M(平) = (∑Mi)/√N (5)
1.2 按贝塞尔公式计算实验标准偏差σ。σ是统计变量的单值分散性的表征量,记为σ(单)。
1.3 求平均值的σ(平)
σ(平) = σ/√N (6)
1.4 求测量点的系统误差
R(系)=│M(平)-B│ (7)
1.5 平均值的随机误差是3σ(平)
1.6 被检测量仪器示值的随机偏差是3σ
1.7 被检测量仪器的误差范围由系统误差R(系)、确定系统误差时的测量误差3σ(平)与示值的随机误差3σ合成。因有第3项,第二项可略。因系以标准的标称值为参考得出,称其为误差范围实验值,记为
R(实验)= R(系) + 3σ (8)
1.8 被检测量仪器的误差范围(以真值为参考的真误差范围)
R = R(实验) + R(B)
= R(系) + 3σ+R(B) (9)
R(B)是所用标准的误差范围。因为误差范围定义为误差元的最大可能值,故(8)(9)式都取加号。
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2 计量中严格的合格性判别
被检测量仪器的误差范围R不大于仪器的指标值,合格。
R ≤ R(仪)
R(实验) + R(B) ≤ R(仪)
R(实验) ≤ R(仪) – R(B) (10)
R(系) + 3σ ≤ R(仪) – R(B) (11)
│M(平)– B│ +3σ ≤ R(仪) – R(B) (12)
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误差范围是误差元绝对值的最大可能值,因此计量时要找误差元的最大可能值。(10)中R(实验)是一个测量点上的误差最大可能值(统计方法用3σ)。注意,测量仪器的误差范围指标是就量程的各个点而言的,因此要找各点的误差范围值的最大值。
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3 计量中的简化处理
在检定工作中,为简化计算,可采用如下计算与判别方式:设Δ是仪器测得值与标准标称值之差,若
│Δ│max ≤ R(标称) – R(B) (13)
则仪器合格。
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为充分显现误差元的最大可能值,要根据测量仪器的特点,合理的设置标准的标称值。标准的标称值要有足够的细度、足够的量值范围,合理的分布。检定中,要有足够的采样点,有足够的测量次数。要重点针对测量仪器的薄弱点。总的原则是要找到测量仪器误差的最大可能值。
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在上述关于计量的讨论中,核心概念是误差范围。因为计量场合有计量标准,误差元是可以求的,但求误差元是过渡,最后都要落实到误差范围上。
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(四)
JJF
1094-2002《测量仪器特性评定》补充与置疑
JJF1094-2002的合格性判别式为
│Δ│ ≤ R(标称) – U95 (14)
1 补充
│Δ│是被检仪器的示值与标准的标称值之差。测量中,可能只测量一个值,是随机选取的,因此它体现了单值的分散性;也可能是多个取值,而要取其中的最大值。各测量点的值不同,要取最大者。│Δ│不能取平均值,因为取平均值等于抹杀被检仪器的随机误差。因此,应加最大值符号max,记为│Δ│max。
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2 置疑
比较判别式(14)与(13)可知,右侧的R(标)换成了U95,是错误的。U95包含了被检仪器的性能,是不应该的。
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(五)A类
不确定度
评定的三个弊病
1 对统计测量,本应是σ(单)而错误的用σ(平)。除以根号N是错误的。除以根号N的作用,是抹杀随机变量的变化特性。
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在统计测量中,随机变量的偏差这个随机变量,本来是一个常值加一个可正可负、可大可小的随机值,偏差元d与偏差范围D应为
d = r(平) ± 3σ
D = D(系) + 3σ
其中
D(系)=│M(平)– L(标)│+3σ(平)
有
D=│M(平)– L(标)│+3σ(平) + 3σ
D(系)是测量仪器示值的平均值与标称值之差的绝对值,称系统偏差范围。
不确定度的A类评定,把3σ丢掉,实际是将D代换成D(系),这是不对的。这大大降低了被测量客观存在的分散性。
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2 对基础测量,随机误差由测量仪器引起。测量仪器的误差范围为
R(仪)= R(系)+3σ
R(系)只在有计量标准的场合,即计量场合才能确定。因此在测量场合,A类评定不能完成独立的评定。由此,不确定评定,不能没有B类评定,而B类评定中的“说明书
规格”中,已包含仪器的随机误差范围。A类评定,重计了。也就是说,对基础测量来说,A类评定是多余的。
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3 评定检定的误差与检定装置的检定能力,错误地加进被检仪器的性能。居然出现用铯标准检定不了通用频率计的怪事。错误理论,危害大矣!
不确定度论的错误,产生的根源之一是不能区分两类测量,没有认识到计量是统计测量。
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(六) 明确“计量是统计测量”的意义
1 计量中不能剔除异常数据。有异常数据,要找到原因,是被检仪器的问题,就判定仪器不合格。是检定装置或环境条件的原因要改进。在没有异常数据的条件下,才能给出检定结果。
2 要找被检仪器示值变化的最大可能值。因为测量仪器的随机误差的表征量是σ(单),而不是σ(平)。
3 计量标准在检定中是手段,手段的因素必须可以忽略。检定必须用够格的计量标准。
4 必须区分手段与对象,不能把对象的问题错赖在手段上。要抵制不确定度评定的错误作法。评定检定装置的检定能力,不能把被检仪器的性能计入。合格判别的U95的评定,包含有被检仪器的因素,不对;要把U95换成标准的误差范围R(标)。
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笔者提出“计量是统计测量”,反对者甚多。确实,理解这个问题有一定难度。但老史确信:赞成者会越来越多。是金子,总会发光。是真理,就不怕被人反对。希望一时还反对这个论点的网友,仔细思考一下,不要轻率地排斥新学说。需知,真知灼见是抹杀不了的,真理是压制不住的!
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作者:
ck99945
时间:
2016-8-18 20:00
看了先生的很多文章,对先生说的东西也非常赞同
前些日子看了一部电影,结尾,主角推翻了所有的概念,认为目前的概念都是错误的。我十分的赞同~!电影的名称《超体》
推荐先生有空的时候看看。
作者:
lkamxmk
时间:
2016-8-18 20:44
未明白你说的错在何处,如果略作补充修正,你看如何?
史老师还说:若着眼点是手段的问题,……,称为基础测量。基础测量的条件是:Δ(对象)<<Δ(手段) (2)
用量块测量百分表的示值误差,因量块按等使用,使用的是实际值“名义值+偏差(相当于修正值)”,因此量块的误差Δ(手段)将小于1μm→0。 被测量(百分表的示值误差)的变化Δ(对象)将可能相当大(规程规定示值重复性3μm或示值漂移一个分辨力10μm),明显大于Δ(手段),而不满足公式(2) Δ(对象)<<Δ(手段),这个测量还能够说是“基础测量”吗?同样类似于这样的例子也很多,因此由公式(2)断定某项测量属于基础测量也需慎重。
作者:
dzlqsq
时间:
2016-8-18 21:13
如果赞成史先生分“基础测量”与“统计测量”的做法(本人并不赞成),那所谓的“统计测量”应该是需要获取相关“标准偏差”之类“统计特征值”的测量【可能是要获取被测量的“标准偏差”——对于一般测量或者用“上级标准测量系统”对“下级标准量(器)”实施量传“标定”、“校准”、“检定”之类的“计量”;也可能是某个测量系统(器具)可能产生的测量误差的“标准偏差”——相应于用“标准量(器)”对“测量系统(器具)”实施量传“标定”、“校准”、“检定”之类的“计量”】,在此前提下,说“计量”是“统计测量”或许是“对”的。
另:即便如此分出了“统计测量”,也免不了获得相应“均值”的“最佳估计值”时,要考虑其“测量不确定度”的“西格玛除以根号N”的问题!
作者:
vooper
时间:
2016-8-18 21:27
史老又发表论文了,恭喜!
作者:
ttyn727
时间:
2016-8-18 21:43
您自己定义的统计测量的条件是:
Δ(手段) << Δ(对象) (1)
Δ(对象)是被测量的变化,记为Δ(物);Δ(手段)是测量仪器的误差,记为Δ(仪)。
测量中的统计测量条件具体化为:
Δ(仪) << Δ(物) (2)
且不说您对统计测量的定义是否科学。
您断定计量(检定或校准)是统计测量
请问检定/校准一个砝码或标准电阻,在检定/校准的过程中是否可以认为砝码或标准电阻的量值保持不变,即Δ(物)认为等于零,而Δ(仪)是不可能认为等于零的,这样(1)和(2)式能成立吗?能是您定义的统计测量吗?您怎么自己给出的定义自己都不会用呢?您硬将Δ(物) 理解成被检定/校准对象的误差,请问量的变化和误差是一回事吗?不要觉得否认了这一点会动摇您的许多观点,要知道这点事是很好理解的,您不承认并不影响大家的判断。
您还认为计量(检定或校准)是统计测量吗?
作者:
zhoujingli
时间:
2016-8-18 22:07
看来您再不确定度评定方面有一定见解。本帖是 :论“计量是统计测量” ,先不去管别的,问题一个一个地解决。史老师提出了两类测量及其判定准则,在多个地方讨论过,在这里史老师单独讨论 “计量是统计测量” ,我们先不说这种提法是否科学,您觉得计量符合史老师定义的统计测量吗?是的理由是什么?不是的理由是什么?
作者:
nshukwrd
时间:
2016-8-18 22:54
<font size="5">
史先生的初衷是好的,想避开“概率与统计”的一些似乎有点“深奥”的基本概念,实用的“界定”什么时候“那个西格玛要除以根号N“?...只是这确实有点难度!
如果稍用一点“概率与统计”的基本概念【要求大家认识“随机量”的“统计特征值”:诸如“均值”、“标准偏差”之类】,便无需再费十分的精力区分“基础测量”与“统计测量”了——
一个“测量”的
测量结果(测得值)
与
被测量(被测对象)
及
测量系统(测量手段)
两方面相关! 无论是普通的测量,还是与“计量”活动相关的特殊测量,对于被测量(被测对象)与测量系统(测量手段)这两方面,只有在其中一方面特性【诸如“均值”、“标准偏差”之类的“统计”特征值】已知的前提下,才可能通过测量结果(测得值)获得另一方面的特性【诸如“均值”、“标准偏差”之类的“统计”特征值】。..... 已知
测量系统(测量手段)的特性【诸如“测量误差”的“均值”、“标准偏差”之类
】,才能由
测量结果(测得值)
获得
被测量(被测对象)特性【诸如“被测量”的“均值”、“标准偏差”之类】的“最佳估计值
”;反之亦然。若是两者皆茫然,便会是一笔糊涂帐了!
至于“测量不确定度”引用的那个“西格玛”是否应该除以根号N,或是一个不太难抉择的事:针对被测量(或“测量系统”的测量误差)的“均值”,考虑其“测量不确定度”时,相应的“西格玛”应考虑除以根号N的问题(也不能闭眼瞎除!实际情况根本不会满足“除以根号N的假定条件”!);而被测量(或“测量系统”的测量误差)本身“标准偏差”的“最佳估计值”是不应该再除以什么根号N的,除非你要考虑它的“测量不确定度”[当前似乎尚未‘深入’到这个层次?]。
作者:
qq53039
时间:
2016-8-18 23:14
对于量具的检定,就是要获得被检量具的量值,这和测量一个量具的量值没有什么区别,您说的普适条件和特定条件就统一了,只能确定为要么基础测量要么统计测量,我想咱们确定为基础测量是没有疑问的吧!而当看做计量时您硬说是统计测量,您的理由就是把“被检仪器的指标”当成了“被测量的变化”,这两个它不是一个东西!像您这样将“被测的指标”和“被测量的变化”相混淆的话,则几乎所有的测量都将变成统计测量,因为任何需要测量的量大都会有一个指标,我们测量的手段必须要远小于这个指标,即为统计测量!例如看看查体报告,是不是有指标;产品的检验是不是有指标,等等。
您不觉得用了两种标准吗?
可以明确的告诉您,虽然在这里跟您讨论您的两类测量,并不是赞成,而是坚决反对这种划分,关于测量的分类教科书中给出了很多,都够用了。您说计量是统计测量,请问检定时通常测量1次,2次、3次或4次等取平均值即可完事,用了多少统计知识,造词也要看其内涵,如果测量过程并没有用到统计知识,而说是统计测量,不是很勉强吗?
史老似乎对检定量具是否为统计测量避而不谈?谈谈看!
作者:
lillian0630
时间:
2016-8-18 23:32
看了您的自我介绍,非常敬佩!晚辈有礼了!您的精神可嘉,可咱得说的有道理,不能自己否定自己。
您在1#的(二)计量是统计测量的后边写到:
“在计量场合,对象是被检测量仪器,而手段是计量标准。计量标准的指标必须远小于被检仪器的指标,符合条件(1),因此,计量是统计测量。”
再看看(一)两类测量区分的标准是怎么写的:
若着眼点是对象的问题,表征量归属于对象,称为统计测量。统计测量的条件是:
Δ(手段) << Δ(对象) (1)
测量,以认识量值为目的。在测量中,对象是被测量,测量仪器是手段。Δ(对象)是被测量的变化,记为Δ(物);Δ(手段)是测量仪器的误差,记为Δ(仪)。
测量中的统计测量条件具体化为:
Δ(仪) << Δ(物) (4)
在您的两类测量区分的标准中:Δ(对象)是
被测量的变化,记为Δ(物)
,可是在您判定计量是统计测量时却
把“被检仪器的指标”当成了“被测量的变化”
,例如将被检标准电阻、砝码、电容、电感等量具或仪器的指标当成了其量值的变化,在检定过程中量具或仪器的指标是可观的,而其量值的变化是微量的。请问“被检仪器的指标”和“其量值的变化”是一回事吗?自己下的定义自己不会用了吗?
两个σ的问题1059和1059.1都已说的很清楚,用错了那是个别使用者的问题,计量是否为统计测量才是关键问题,关系重大,您还是先来解决这个问题吧。
作者:
2支棒棒糖
时间:
2016-8-18 23:51
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关于“计量是统计测量”的答辩(1)
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史锦顺
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都成说规矩湾的帖子一半问错了,把质疑变成了证实。无奈,规矩湾不解都成的意思,又说了一遍,还是帮史锦顺说话。史锦顺就只好偷着乐——反对我的观点,却在论述我的说法是正确的。我坐享其成了。
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规矩湾说
:
用量块测量百分表的示值误差,因量块按等使用,使用的是实际值“名义值+偏差(相当于修正值)”,因此量块的误差Δ(手段)将小于1μm→0。 被测量(百分表的示值误差)的变化Δ(对象)将可能相当大(规程规定示值重复性3μm或示值漂移一个分辨力10μm),明显大于Δ(手段),而不满足公式(2) Δ(对象)<<Δ(手段),这个测量还能够说是“基础测量”吗?同样类似于这样的例子也很多,因此由公式(2)断定某项测量属于基础测量也需慎重
。
-
【史评】
检定百分表,标准是量块。量块是手段,Δ(手段) 很小,百分表是对象,Δ(对象)相当大。Δ(手段)<<Δ(对象),满足公式(1),是统计测量,而不是基础测量。
规矩湾说:用量块检定百分表,不满足条件(2),不是基础测量;说法正确。
用量块检定百分表,不满足条件(2),不是基础测量;不满足条件(2),而满足条件(1),因此,用量块检定百分表是统计测量。老史的论题是“计量是统计测量”,该项计量是统计测量,这是证明老史论点成立的一个实例。在计量中,类似的实例很多。这大量的实例都证明老史的“计量是统计测量”的判断成立。
-
用量块、砝码检定测量仪器,或用标准测量仪器检定一般测量仪器,Δ(手段)<<Δ(对象),满足判别公式(1)是统计测量,这一点,应该容易达成共识。难点是:检定量块、检定砝码,还能说是统计测量吗?理解这个问题,老史费了几个月的时间,才完成一次认识上的飞跃。此点都成质疑在前,有又几位有同样的质疑,老史绝不回避要害问题,一定答复。只是话要长些,几乎与我整个学术活动史有关。我将努力交一份经得住历史考验的答卷。因手头在写关于两个西格玛的文章,过些日子才能回复质疑者们。只想先交代一句:老史是胸有成竹的。要仔细研究老史的文章,才能提出有分量的质疑。一棵小草,一踩便倒;扳倒一棵树,就得有足够的力气。六年北大的熏陶,十年国家计量院的磨砺,五十二年的理论创新、学术论战的历史,与八位院士的争辩,与几十位教授级学者的切磋与探讨,练就的是辨别是非的识别能力、不畏权威的置疑精神、不断提出新见解、新理论乃至新学说的勇气。我这里自我表白一通,目的是吸引网友,都来看看老史这篇有新意的文章,对还是不对。不论赞成还是反对,都该认真想一想。
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作者:
darny
时间:
2016-8-18 23:56
史老师说:若着眼点是对象的问题,表征量归属于对象,称为统计测量。统计测量的条件是:Δ(手段)<<Δ(对象) (1)
用光学计检定光滑量规,光滑量规是实物量具被测量的变化Δ(对象)→0,光学计的误差Δ(手段) 将大于Δ(对象),而不满足公式(1) Δ(手段)<<Δ(对象),这个检定(史老师说的计量)还能够说是“统计测量”吗?计量检定和校准活动中类似于这样的例子还有许多,因此用公式(1)断定“计量是统计测量”需要慎重。
史老师还说:若着眼点是手段的问题,表征量归属于手段,称为基础测量。基础测量的条件是:Δ(对象)<<Δ(手段) (2)
用量块测量百分表的示值误差,量块的误差Δ(手段)→0, 被测量百分表的示值误差变化Δ(对象)将大于Δ(手段),而不满足公式(2) Δ(对象)<<Δ(手段),这个测量还能够说是“基础测量”吗?同样类似于这样的例子也很多,因此由公式(2)断定某项测量属于基础测量也需慎重。
作者:
一条龙
时间:
2016-8-18 23:57
您前半部分关于统计测量的反驳是对的,但是后半部分关于基础测量的反驳是错误的。请再斟酌。
作者:
3266364gxf
时间:
2016-8-19 00:17
你自称“晚辈”,得知你年轻,我好生羡慕。
两次发问,理直气壮,颇有质疑精神。
关于“两类测量”的划分与“两个西格玛”的区分,哪个分量重的问题,我和你有不同的认识。我认为后者更重要,因为这涉及测量计量工作的具体的操作、具体的数据处理方法。你说对两个西格玛的处理已经解决得很好,这表明你在这个问题上,多点迷信,少点质疑精神。我正在写一篇继续探讨两个西格玛区分的文章,几天内可挂出。请你批评。我的两类测量划分的提法,主要是为了便于区分两个西格玛。也有一些其他应用,如判别该不该剔除异常数据以及该如何选取测量仪器等。
其实你还没进入赞成还是反对两类测量划分这个本质问题,仅仅是在舞弄“以其矛攻其盾”这种逻辑武器。请你注意,我给出的条件(1)是普适的,可以用于测量,也可以用于计量;而仅仅在测量(认知量值)的情况下,才可以蜕化为条件(4).计量时的对象与手段,与测量时的对象与手段截然不同。不能用条件(4)来处理计量的类别划分问题。计量时的手段问题必须远远小于对象的问题,所以我才判断计量是统计测量。这是符合条件(1)的,并没有逻辑错误。你用测量之矛,攻计量之盾,是因为你把两类测量划分的不同条件下的不同标准弄混了。一个是普适条件,一个是特定条件,我在文章中是交代过的。你大概没注意,请你再仔细看看。
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